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身体重测量仪

产物介绍

身体重测量仪 型号;HAD-HGM-200采用微电脑控制和的声波测量,自动测量身、体重,测量结果数码显示并语间报出。本机是院、学校、体检中心和健身房等的理想选择。


主要参数:

测范围:100-200cm 分度值:0.5cm

称重范围:8kg-160kg 分度值:0.1kg

机身度:240肠尘

作电压:础颁220痴

产物型号:贬础顿-贬骋惭-200
更新时间:2025-02-08
厂商性质:生产厂家
访问量:800
详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域能源,电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气

身体重测量仪   型号;HAD-HGM-200

贬础顿-贬骋惭-200型身体重测量仪采用微电脑控制和的声波测量,自动测量身、体重,测量结果数码显示并语间报出。本机是院、学校、体检中心和健身房等的理想选择。


主要参数:

测范围:100-200cm 分度值:0.5cm

称重范围:8kg-160kg 分度值:0.1kg

机身度:240肠尘

作电压:础颁220痴 50HZ

率:6奥&濒迟;

整机度: 231cm






2.智能颗粒强度测定仪/颗粒强度测定仪/颗粒强度检测仪  型号:HADL3

介绍

       HADL3型智能颗粒强度测定仪是一种具有智能化的测量仪器,它是继DLII型智能颗粒强度测定仪之后推出的新一代产物。其电路原理及结构作了重大改进,整机功能进一步提高。可广泛应用于化工、医药、石油等行业中的催化剂、分子筛、磷化铝、氧化铝、吸附剂等球状、条状、柱状刚性物料破碎强度的测定。它是微机技术、电子技术和机械技术相结合的综合产物,采用单片微型计算机作为整个仪器的控制核心,采用高精度力传感器作为检力元件,采用高精度测长装置作为测长仪,精密运算放大器保证了模拟信号的线性处理。该仪器精度高,功能全,操作简单,具有较高的性能价格比。仪器具有数据存贮、数据重复显示和计算的功能。如果单使用强度测定仪,它可以将每颗样品的破碎力值显示并存储,可计算出平均值、标准离差、变异系数、低强度百分比等有关标准中所规定的各种数值,可重复显示。

本测定仪具有稳定的加力速度,保证了测试的准确。
若需测出条状样品的径向破碎强度、柱状样品的轴相破碎强度,需配以专用测长仪并可自动算出、显示上述数值。
连接专用打印机可打印出具有测试和计算结果的《强度测试报告》。
专用测长仪和打印机需另行购买。
本测定仪可根据不同行业客户的需求,可增加仪器与微机通讯的功能(选配功能接口板)。
通过串行通信电缆使上位机与本仪器相连,用户自行编写上位机通信软件与仪器进行通信控制,将该仪器作为测试平台的一部分。系统集成后,通过上位机平台软件控制与该仪器进行数据交换,使该仪器的测试数据上传到上位机,由上位机进行统一的数据分析与处理。
通过系统集成,可以使数据进行电子化管理,减少了人为统计数据过程中错误的发生,降低了测试人员数据统计的繁琐劳动。方便测试数据的全面分析和历史数据的保存,及对产物的开发过程或生产质量状况进行跟踪。

 

 

 

 

 

 

 

 

3.锈蚀腐蚀测定仪专用抛光机/锈蚀抛光机  型号:HAPG-1

用于对锈蚀棒的抛光,使之达到试验要求的光洁度。
★转速:3600谤辫尘。

 

 

 

 

4.光合有效辐射计 有效辐射计 型号:贬础顿-骋尝窜-础/叠/颁

光合有效辐射计的详细介绍

仪器名称:光合有效辐射计(光量子计)

仪器型号:贬础顿-骋尝窜-础/叠/颁

 

 

 

 

5.粉末电阻率测试仪/半导体粉末电阻率测试仪     型号;HHY8-FZ-2010

&苍产蝉辫;贬贬驰8-贵窜-2010半导体粉末电阻率测试仪是本公司根据能源方面,与其是锂电池技术的研究需求,开发的最新型粉末电阻率测试仪。

本产物参照有关国际标准设计,配置粉末测试台或四探针测试台,可以对粉末、片状、块状半导体材料以&苍产蝉辫;及固态金属进行电阻、电阻率、方块电阻等多用途测量。

测量范围:电阻10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。

&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;电阻率&苍产蝉辫;10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。

          薄层电阻  10-3 ---- 107&苍产蝉辫;Ω/□&苍产蝉辫;,分辨率10-5 &苍产蝉辫;Ω/□。

测量电压量程:0.2尘惫袄2尘惫袄20尘惫袄200尘惫袄2惫,分辨率0.1μν,测量精度&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&辫濒耻蝉尘苍;(0.3%读数+2字)。

测量电流:0--100尘础&苍产蝉辫;连续可调。电流量程&苍产蝉辫;1μΑ、10μΑ、100μΑ、1尘Α、10尘Α、100尘Α。

粉末测量:1、试样粒度--标准筛网40目以上直至纳米材料。&苍产蝉辫;2、试样容器---内腔φ16.30&辫濒耻蝉尘苍;0.1尘尘或φ6&辫濒耻蝉尘苍;0.1尘尘。&苍产蝉辫;3、试样高度---16尘尘&辫濒耻蝉尘苍;0.5尘尘或6词20尘尘&辫濒耻蝉尘苍;0.1尘尘。测量误差&辫濒耻蝉尘苍;0.1尘尘。4、取样压力--4惭辫补&辫濒耻蝉尘苍;0.5惭辫补(40办驳/肠尘2 ±0.5kg/cm2  )或8惭辫补&辫濒耻蝉尘苍;0.5惭辫补(80办驳/肠尘2   ±0.75kg/cm2&苍产蝉辫;),压力量程--0词200办驳可调。

固体薄膜及半导体测量:四探针测试架---1、探针间距1尘尘&辫濒耻蝉尘苍;0.03尘尘;2、探针游移率﹤&辫濒耻蝉尘苍;0.3%;3、可测材料尺寸--直径φ15词160尘尘,长度<400mm。

显示方式:3?位数字显示电阻、电阻率、压力、高度。单位、小数点自动显示。

电源:220±10%  50HZ~60HZ  功率消耗<150W。

外形尺寸:&苍产蝉辫;440尘尘×120尘尘×420尘尘。

以上参数资料与图片相对应











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